top of page

Seametr

Рисунок 9.

 

Система управления эксплуатацией контрольно-измерительных приборов и автоматики (СУЭ КИПиА) предназначена для решения полного комплекса метрологических задач.

Метрологическое обеспечение является неотъемлемой частью грамотной и безопасной эксплуатации любой техники. Использование контрольно-измерительного оборудования требует соблюдения ряда стандартов и предусматривает проведение целого комплекса мероприятий, направленных на получение надежных результатов измерений. 

В процессе управления КИПиА необходимо учитывать быстрое обновление номенклатуры доступных измерительных приборов, появление современных многофункциональных измерительных комплексов и создание новых методик проведения измерений. По этим причинам, эффективная работа метрологической службы сегодня невозможна без использования современных средств информационной поддержки.

В состав СУЭ КИПиА входят интерактивный каталог средств измерения, интерактивные электронные технические руководства по использованию средств измерений, а также автоматизированное рабочее место со специальным программным обеспечением для метролога.

Специальное программное обеспечение метролога функционирует по управлением операционных систем Microsoft Windows, Linux, МСВС.

 

 

Функциональность

  • Ведение каталога КИПиА;

  • Предоставление данных по эксплуатации средств измерения в виде интерактивных электронных технических руководств;

  • Планирование и контроль выполнения поверок и других метрологических работ;

  • Формирование регламентированных документов в процессе эксплуатации КИПиА;

  • Предоставление актуальной информации по состоянию и использованию КИПиА;

  • Учет, хранение и обновление нормативных метрологических документов;

  • Рекомендации по обслуживанию КИПиА и проведению метрологических работ.

 

Особенности и преимущества

  • Соответствие действующим нормативным документам в области метрологии и документам МО РФ; 

  • Возможность автоматизированного тестирования;

  • Архивирование и статистический анализ результатов измерений контролируемых параметров.

     

     

     

     

     

     

     

     

     

bottom of page